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X熒光光譜儀在實際操作中的常見問題相應解決方法分享

2025-04-21

X熒光光譜儀是一種基于X射線熒光效應的分析儀器，用于快速、無損地檢測樣品中的元素成分與含量。其工作原理是利用X射線管產生的高能X射線激發樣品，使樣品中元素的原子內層電子躍遷，外層電子填補空穴時釋放出特征X射線熒光。X熒光光譜儀在實際操作中用戶可能會遇到一些問題，以下是常見問題相應...

2022
11-16

熒光光譜測金儀可通過這些方法分離熒光熒光光譜測金儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法，是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。該儀器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強度準確性和波長準確性以及強的抗外界干擾性和優良的儀器穩定性，在儀器的軟件上，要求能夠進行導數、去卷積等復雜的數學計算，能夠計算光譜間相似度、模式識別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫并進行檢索。熒...
2022
11-15

粉末壓片XRF光譜儀測定土壤及水系沉積物和巖石樣品中15種稀土元素? ?粉末壓片XRF熒光光譜儀EDX9000B礦石土壤分析儀測定土壤及水系沉積物和巖石樣品中15種稀土元素?采用粉末樣品壓片制樣,使用能量色散X射線熒光光譜儀對土壤,水系沉積物和巖石樣品中15個稀土元素(La,Ce,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Lu,Y)進行測定.開發了15個稀土元素的測量條件，基體效應和譜線重疊干擾校正.使用60余個土壤,水系沉積物和巖石標樣建立校準曲線,采用經驗系數法和康普頓內標法校正基體效應,并用多元回歸準確扣除稀土元素...
2022
11-15

便攜式XRF熒光光譜儀在測定可可粉中鐵元素含量的應用便攜式XRF熒光光譜儀Compass200測定可可粉中鐵元素含量可可粉是從可可樹結出的豆莢（果實）里取出的可可豆（種子），經發酵、粗碎、去皮等工序得到的可可豆碎片（通稱可可餅），由可可餅脫脂粉碎之后的粉狀物，即為可可粉。可可粉按其含脂量分為高、中、低脂可可粉；按加工方法不同分為天然粉和堿化粉。可可粉具有濃烈的可可香氣，可用于高檔巧克力、飲品，牛奶，冰淇淋、糖果、糕點及其它含可可的食品。在最終產品中以及在過程中測量可可粉中的鐵(Fe)含量進行監控生產。這一舉措確保了一致的味道，...
2022
11-15

XRF油品分析儀在硫氯元素分析中的檢測應用便攜式測硫儀Compass4294分析航空用油中的硫元素含量Compass4294測試航空燃料中的硫更清潔的燃料可以幫助最大限度地減少氣候影響航空排放。噴氣燃料S水平范圍從10到3000ppm，平均水平為400-800ppm。然而，降低燃料中的S可能會導致潤滑性降低會影響飛機發動機和燃油系統的性能。因此，保持最佳S水平至關重要。X射線熒光(XRF)分析是可重現的燃料油中硫的準確篩選方法符合全球污染法規。便攜的XRF可用于燃料處理系統開發中心、航空油庫、油罐車或泵站機庫附近。X...
2022
11-15

X射線能量色散熒光光譜礦石測試儀熔片法同時測定錳硅合金中錳、硅、磷 X射線能量色散熒光光譜EDX9000BPlus礦石測試儀熔片法同時測定錳硅合金中錳、硅、磷錳的用途非常廣泛，世界上90%-95%的錳應用于冶金工業，其余應用于電池工業、陶瓷工業、化學工業等。根據成礦作用過程中的含礦巖系特征，將世界錳礦劃分為海相沉積型、火山（熱液）-沉積型、變質型、熱液型和表生型5類，以海相沉積型、變質型和表生型為主。截至2020年，世界錳的儲量達8.95億噸，但分布極不均勻，主要集中在南非、巴西、烏克蘭、澳大利亞、加蓬、中國、印度、加納等國。錳礦是鋼鐵工業重...
2022
11-15

能量色散熒光光譜儀應用于潤滑油中重金屬元素含量的檢測分析 Compass4294能量色散熒光光譜儀用于分析潤滑油中重金屬元素含量應用報告Compass4294EnergyDispersiveFluorescenceSpectrometerisusedtoanalyzethecontentofheavymetalelementsinlubricatingoil.Applicationreport一簡介潤滑油是用在各種類型汽車、機械設備上以減少摩擦，保護機械及加工件的液體或半固體潤滑劑，主要起潤滑、輔助冷卻、防銹、清潔、密封和緩沖等作用...
2022
11-14

用X射線熒光光譜鍍層測厚儀膜厚儀測量復合鍍層厚度和成分用X射線熒光光譜鍍層測厚儀EDX8000B膜厚儀測量復合鍍層的厚度和成分隨著X射線熒光(XRF)元素分析膜厚儀的各種進展,不僅提高了定性和定量分析的能力與精度,而且已被用來測量鍍層厚度,使原來無法進行無損絕對測量的問題得以解決.但是,生產中常見的復合鍍層厚度的絕對測量,仍未園滿解決.英飛思ESI生產的EDX8000B膜厚儀確立的XRF復合鍍層計算方法,能同時測量它們兩層的厚度.該方法基于FP無標樣基本參數法算法，能實現最多5層多鍍層厚度和成分分析，是理想和可靠的金屬鍍層測厚儀...

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